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| 影响缺陷定量的主要因素 |
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| 更新时间：2017-10-18 10:23:29 |
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| 仪器及探头性能的影响，仪器的垂直线性、精度及探头频率、形式、晶片尺寸，折射角大小等都直接影响缺陷回拨高度，耦合与衰减的影响，耦合剂的声阻抗和耦合层厚度对回波高有较大的影响，当探头与调灵敏度用的试块和被探工件表面耦合状态不同时，而又没有进行恰当的补偿，也会使定量误差增加，精度下降，由于超声波在工件中存在衰减，当衰减系数较大或距离较大时，由此引起的衰减也较大，如不考虑介质衰减补偿，定量精度势必受到影响，因此咋探伤晶粒粗大和大型工件时，应测定材质的衰减系数，并在定量计算时考虑介质衰减的影响，以便减少定量误差。工件几何形状和尺寸的影响，工件底面形状不同，回波高度不一样，图曲面使反射波发散，回波降低，凹曲面使反射波聚焦，回波升高，工件底面与探测面的平行度以及底面的光洁度，干净程度也对缺陷定量有较大的影响，由于侧壁干涉的原因，当探测工件侧壁附近的缺陷时，会产生定量不准，误差增加，工件尺寸的大小对定量也有一定的影响，为减少侧壁的影响，宜选用频率高、晶片尺寸大且指向性好的探头探测或横波探测，必要时可采用试块比较法来定量。
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