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| 探测条件的选择 |
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| 更新时间：2017-8-7 17:28:55 |
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| 探头的选择，直探头的频率对于一般材料用2-5Mhz,而对于奥氏体粗晶材料可用于低于2MHZ的频率，对于大型锻件宜用大直径探头，既可提高发射强度又可提高扫描速度，对探测面粗糙的锻件要用软保护膜探头，对轴类锻件圆柱探测宜用较小晶片的探头以改善耦合效果。耦合剂的选择：对于大而平整探测面的锻件宜用化学浆糊、机油作为探测表面比较粗糙的锻件宜用叫粘稠的化学浆糊、水玻璃等可改善耦合效果，而对于轴类锻件宜用机油作为耦合剂，检测时机：杜宇那些要经过热处理工序的锻件除了在热处理之前作检测外，在热处理后必须进行检测，以检出热处理工序不当所产生的缺陷。探测面：通常选择有平行底面（或圆柱面）作为探测面，一般应选用二个和二个以上探测面，表面粗糙度不应超过6.3μm.
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